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        公司新聞

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標

        FCP磁場控制平臺

         

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標產品概述:

        FCP磁場控制平臺是根據磁控原理設計的理想磁測量系統,磁場范圍超過3T,利用TESTIK475高斯計穩定磁場控制,適合各系列電磁鐵配置,連續可變的電磁氣隙,實心的和光學入口極帽,線型雙極,真實四象限電磁鐵電源。

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標控制特征:

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標TESTIK475型高斯計努力保持確切的磁場密度,用戶輸入的控制設定點,用G、T、Oe、A/m來表示。為了這北京錦正茂的電磁鐵磁場控制平臺集成了硬件和控制部件來形成一個變化的磁場平臺,可以被獨立的被利用或做為用戶設計的測量系統的一個基礎。

        ※ 磁場控制平臺包括錦正茂公司的電磁鐵、雙極電源、具有控制能力的DSP技術的高斯計、霍爾探頭及支架等。 錦正茂提供的磁場控制平臺具有不同的配制用來滿足在磁場強度、磁場均勻性、樣品尺寸、自定義測量要求等基礎之上的用戶要求??梢元毩⒌男纬捎脩羲枰牟煌艌鰪姸鹊目勺兇艌?。廣泛用于磁光測量系統、VSM測量系統、在線退火、霍爾效應、磁化率測量、自旋磁共振、B-H曲線測量和精準的傳感器校準等領域。

        樣做,475高斯計從高斯計霍爾探頭得到反饋來計算并調整控制(模擬)輸出。為了更大程度實現控制的穩定性,475型高斯計每33毫秒更新模擬輸出。結果是一個內置的PI 控制器提供了峰值-到-峰值的0.5 G*的磁場穩定性。

        ※ 當設定點速率激活的時候,儀器會開始從當前磁場讀數加速而不是當前設定點,基于對P和I的設定。另外,475高斯計能設定速率來控制設定點,從當前磁場讀數到一個新的值,使用一個磁場中平滑線性變換而不是瞬態特性的PI控制。

        ※ 開環磁場控制也可能用手動輸出來使用475模擬輸出,這意味著忽視了反饋并且模擬輸出停留在手動用戶調整。這個方法使磁體電源操作處于恒定電流模式。

        ※ 475也包含了用戶可設定的控制斜率限制和模擬輸出電壓限制。這些軟件限制保證了磁體電源如果磁場控制系統遭到不合適的調整或開始擺動而不會損壞。

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標

        TESTIK475有1個計算機接口:RS-232串口:。這個接口可以設置所有儀器參數和測量值得讀回。在磁場控制期間,接口的讀數率是額定每秒30個讀數。475的LabVIEW驅動是提供的(選配)。磁場控制平臺不含應用軟件。

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標產品概述:

        FCP磁場控制平臺是根據磁控原理設計的理想磁測量系統,磁場范圍超過3T,利用TESTIK475高斯計穩定磁場控制,適合各系列電磁鐵配置,連續可變的電磁氣隙,實心的和光學入口極帽,線型雙極,真實四象限電磁鐵電源。

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標控制特征:

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標TESTIK475型高斯計努力保持確切的磁場密度,用戶輸入的控制設定點,用G、T、Oe、A/m來表示。為了這北京錦正茂的電磁鐵磁場控制平臺集成了硬件和控制部件來形成一個變化的磁場平臺,可以被獨立的被利用或做為用戶設計的測量系統的一個基礎。

        ※ 磁場控制平臺包括錦正茂公司的電磁鐵、雙極電源、具有控制能力的DSP技術的高斯計、霍爾探頭及支架等。 錦正茂提供的磁場控制平臺具有不同的配制用來滿足在磁場強度、磁場均勻性、樣品尺寸、自定義測量要求等基礎之上的用戶要求??梢元毩⒌男纬捎脩羲枰牟煌艌鰪姸鹊目勺兇艌?。廣泛用于磁光測量系統、VSM測量系統、在線退火、霍爾效應、磁化率測量、自旋磁共振、B-H曲線測量和精準的傳感器校準等領域。

        樣做,475高斯計從高斯計霍爾探頭得到反饋來計算并調整控制(模擬)輸出。為了更大程度實現控制的穩定性,475型高斯計每33毫秒更新模擬輸出。結果是一個內置的PI 控制器提供了峰值-到-峰值的0.5 G*的磁場穩定性。

        ※ 當設定點速率激活的時候,儀器會開始從當前磁場讀數加速而不是當前設定點,基于對P和I的設定。另外,475高斯計能設定速率來控制設定點,從當前磁場讀數到一個新的值,使用一個磁場中平滑線性變換而不是瞬態特性的PI控制。

        ※ 開環磁場控制也可能用手動輸出來使用475模擬輸出,這意味著忽視了反饋并且模擬輸出停留在手動用戶調整。這個方法使磁體電源操作處于恒定電流模式。

        ※ 475也包含了用戶可設定的控制斜率限制和模擬輸出電壓限制。這些軟件限制保證了磁體電源如果磁場控制系統遭到不合適的調整或開始擺動而不會損壞。

        錦正茂FCP磁場控制平臺技術指標

        TESTIK475有1個計算機接口:RS-232串口:。這個接口可以設置所有儀器參數和測量值得讀回。在磁場控制期間,接口的讀數率是額定每秒30個讀數。475的LabVIEW驅動是提供的(選配)。磁場控制平臺不含應用軟件。


        京公網安備 11010602006210號

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